2016年6月16日–NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI)作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰(zhàn)的供應商，近日在上海舉辦了第十三屆“PXI 技術和應用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC）。本次PXI TAC的主題為“更智能的系統-更智能的系統測試”，吸引了600余名行業(yè)領軍人物、技術專家和相關機構代表，共同分享最新、最全、最前沿的測試領域技術干貨，探討PXI技術的發(fā)展趨勢和應用案例。

    在今年的PXI TAC上，NI發(fā)布了7位半數字萬用表(DMM)、802.11ax無線測試解決方案、用于毫米波(mmWave)的軟件無線電(SDR)和模塊化源測量單元(SMU)等多款業(yè)界首創(chuàng)的PXI新產品，再度引領PXI技術發(fā)展的新潮流，致力于幫助用戶打造更加智能的系統測試解決方案。同時，15家國內外知名PXI供應商和系統集成商亮相本次PXI TAC，展示了他們基于PXI技術開發(fā)的各項產品和技術應用。

    自NI推出PXI技術以來，PXI平臺現已成為了自動化測試和控制的主流平臺。和傳統儀器相比，PXI平臺具有較高的測量能力，低延遲和高帶寬，軟件靈活定義，集成定時和同步，高處理性能，尺寸、重量、功耗小，平臺儀器齊全等優(yōu)點；并且PXI平臺可以作為整個系統的中心，連接已有的其他儀器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在最大可能減少系統瓶頸的情況下，保持已有設備投資。因此，越來越多的客戶使用PXI平臺的儀器開展自動化測試。據Frost & Sullivan預測，到2021年，PXI平臺作為整個儀器行業(yè)的主力增長力量，將會一直以超過15%的增長率持續(xù)增長。

圖：NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale

    NI始終致力于PXI技術的不斷進步，并在這一領域不斷投入和持續(xù)創(chuàng)新。隨著以物聯網為代表的智能系統的興起，智能設備呈爆炸式增長態(tài)勢，對測試和測量任務提出更加嚴峻的挑戰(zhàn)。 “在物聯網的大背景下，智能設不斷涌現，形成了更智能的系統，這就必然需要更加智能的測試系統。憑借開放靈活的軟件、模塊化的硬件和完整的生態(tài)系統，PXI平臺獲得了自動化測控領域工程師的一致認可，” NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale表示，“作為PXI平臺的發(fā)明者和市場領導者， NI多年來堅持將PXI TAC打造成開放、自由的技術交流平臺。我們期待與各界同仁攜手，促成PXI平臺的持續(xù)創(chuàng)新，應對測試測量任務越來越嚴峻的挑戰(zhàn)。”

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從1976年開始，美國國家儀器 (www.ni.com)  一直致力于提供各種強大的基于平臺的系統來幫助工程師和科學家提高效率和加速創(chuàng)新，以解決全球面臨的重大工程挑戰(zhàn)。從醫(yī)療、汽車、消費電子產品到粒子物理等各行各業(yè)的客戶正在使用NI的集成軟硬件平臺來改善我們生活的環(huán)境。

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