OC Sharp屬于短距離激光測(cè)距（也叫位移傳感器）產(chǎn)品，其測(cè)量基于“光譜分析”原理，是和原OD系列采用的“三角測(cè)量法”原理完全不同的最新技術(shù)。SICK提供“光譜共焦”和“光譜干涉”2種測(cè)量原理的測(cè)量頭，精度可以達(dá)到納米（10-9米）級(jí)（即分子水平），是目前全球最高精度的非接觸式測(cè)量傳感器之一。全新“光譜分析”技術(shù)保證可以適應(yīng)任何顏色的被測(cè)物，其測(cè)量頭是純機(jī)械結(jié)構(gòu)的光學(xué)部件，不含電子元器件，杜絕電磁干擾和高溫影響。同時(shí)，它使用的是白色直射可見光，完美適應(yīng)弧面和深孔等測(cè)量應(yīng)用。

基于以上優(yōu)異的產(chǎn)品特性，OC Sharp十分適用于電子和太陽能行業(yè)中半導(dǎo)體硅片表面晶相測(cè)量，制藥行業(yè)中試管內(nèi)藥物液位高精度測(cè)量，玻璃行業(yè)中玻璃高精度測(cè)厚，以及包裝等行業(yè)中薄膜測(cè)厚。

特性規(guī)格
   
    ▪  產(chǎn)品量程從600微米到12毫米

▪  光譜共焦法原理傳感器帶來高精度和高可靠性

▪  極高的測(cè)量頻率，達(dá)4,000 Hz

▪  廣泛適用于各種材料和顏色被測(cè)物的高精度穩(wěn)定測(cè)量

▪  一個(gè)測(cè)量頭即可以精確測(cè)量極薄透明薄膜的厚度

▪  最小4微米的極小光點(diǎn)，可以測(cè)量非常小的被測(cè)物

▪  最高5.5納米的分辨率

▪  一臺(tái)控制器同時(shí)連接一個(gè)測(cè)量頭工作

▪  測(cè)距，透明測(cè)厚和干涉法測(cè)厚三種測(cè)量工作模式

▪  免費(fèi)操作軟件，使用方便

應(yīng)用領(lǐng)域：

▪  高精度識(shí)別測(cè)量：比如汽車行業(yè)發(fā)動(dòng)機(jī)和變速箱等核心部件的尺寸測(cè)量，機(jī)床行業(yè)的高精度加工件測(cè)量

▪  薄膜厚度測(cè)量：比如吹膜機(jī)膜厚監(jiān)控，流延膜厚監(jiān)控

▪  精密制造及組裝行業(yè)：比如軸承鋼珠外形監(jiān)控，細(xì)孔深度測(cè)量

▪  電子及太陽能：半導(dǎo)體硅片表面物相監(jiān)控

▪  電子及太陽能：電路板質(zhì)量監(jiān)控，高精度IC針腳監(jiān)控，比如硬盤制造，消費(fèi)電子產(chǎn)品組裝質(zhì)量監(jiān)控

▪  透明玻璃厚度檢測(cè)：比如顯示屏玻璃平面度及厚度測(cè)量，鏡頭或鏡片鍍膜厚度檢測(cè)

客戶受益：

▪  得益于傳感器納米級(jí)的高精度和4K的測(cè)量頻率，可以高速高精度的檢測(cè)各種物體

▪  極高的精度和極大的允許傾斜角度，讓現(xiàn)場(chǎng)使用非常靈活，節(jié)省成本

▪  單頭測(cè)量透明物體厚度，為高精度透明物體測(cè)量提供高性價(jià)比方案

▪  得益于其極小的光斑，該傳感器可以用來測(cè)量極小的被測(cè)物，比如IC針腳，或者極小的孔深，而這些原來的接觸式或者三角測(cè)量法傳感器都無法實(shí)現(xiàn)，為客戶的測(cè)量提供新的可能方案。

▪  非接觸性式，無需特殊安裝設(shè)備及免示教的測(cè)量技術(shù)，為客戶節(jié)省安裝調(diào)試及后期維護(hù)時(shí)間，節(jié)省成本。

▪  隨機(jī)附帶的操作軟件，為客戶節(jié)省時(shí)間和成本